System wysokorozdzielczego dyfraktometru rentgenowskiego Empyrean (Panalytical) przeznaczony jest do badań materiałów polikrystalicznych, nanomateriałów oraz materiałów amorficznych w zakresie:

• identyfikacji fazowej jakościowej i ilościowej
• określania stopnia krystaliczności
• badania cienkich warstw
• identyfikacji struktury krystalicznej
• określania średniego rozmiaru wielkości krystalitów
• określania rozkładu wielkości krystalitów (bez wstępnych założeń)
• monitorowania (in-situ) zmian krystalicznych pod wpływem temperatury, rodzaju atmosfery gazowej oraz ciśnienia.

Badania przeprowadzane są w standardowych oraz specjalnych geometriach i technikach pomiarowych i analitycznych:

• odbicia (Bragg-Brentano)
• transmisji (Debye-Scherrera)
• dyfrakcji transmisyjnej w kapilarze
• mikrodyfrakcji
• rozproszenia niskokątowego SAXS (Small Angle X-ray Scattering)
• reflektometrii „out-of-plane” oraz „in-plane”, pozwalających na badania cienkich warstw oraz warstw epitaksjalnych
• analizy PDF (Pair Distribution Function), stosowanej do strukturalnej charakteryzacji materiałów nanokrystalicznych i amorficznych z użyciem wysokoenergetycznego źródła wzbudzania.

System dyfraktometru Empyrean wyposażony jest w:

• zestaw trzech ceramicznych lamp rentgenowskich dużej mocy z anodami: Cu, Co lub Ag, wraz z filtrami odcinającymi promieniowanie Kβ 
• goniometr pionowy o wysokiej rozdzielczości kątowej 0,0001^o, z zakresem kątowym 2θ od -111^o do +168^o  
• system dwóch detektorów: półprzewodnikowego detektora rastrowego PIXcel^3D, zapewniającego pomiary we wszystkich wymiarach: 0D, 1D, 2D i 3D oraz detektora scyntylacyjnego
• 45-pozycyjny, automatyczny zmieniacz próbek
• niezbędne oprzyrządowanie, układy mechaniczne, optyczne i sterujące
• przepływową komorę reakcyjną XRK 900 (Anton Paar) z wyposażeniem (system dozowania gazów i par, generator wodoru wysokiej czystości), umożliwiającą badania dyfrakcyjne (w zakresie 2θ od 0^o do +165^o) w warunkach in situ w podwyższonych temperaturach (do 900^oC) oraz ciśnieniach (od 1 mbar do 10 bar).

Oprogramowanie umożliwia sterowanie systemem dyfraktometru i zbieranie danych pomiarowych oraz zawiera szereg specjalistycznych pakietów do obróbki i analizy danych pomiarowych, badań 2D (okręgi Debye’a) oraz konwersji danych dyfrakcyjnych z 2D do 1D, krystalografii i identyfikacji fazowej (ilościowej i jakościowej) z analizą Rietvelda, rozproszenia niskokątowego SAXS, transmisji kapilarnej, mikrodyfrakcji, analizy PDF, reflektometrii i analizy warstw epitaksjalnych, bazę danych dyfrakcyjnych ICDD PDF-4+ oraz oprogramowanie do wizualizacji i opracowania graficznego wyników.

Zobacz zdjęcia w galerii